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X射线光电子能谱(XPS)-618限时秒杀

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X射线光电子能谱(XPS)-618限时秒杀

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项目介绍

X光电子能谱法是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,一般,其信息深度约为10nm以内。如果辅以离子刻蚀手段,再利用XPS作为分析方法,则可以实现对样品的深度分析。

一、电子能谱法的特点

1、可以分析除 H 和 He 以外的所有元素;可以直接测定来自样品单个能级光电发射电子的能量分布,且直接得到电子能级结构的信息。

2、从能量范围看,如果把红外光谱提供的信息称之为“分子指纹”,那么电子能谱提供的信息可称作“原子指纹”。它提供有关化学键方面的信息,即直接测量价层电子及内层电子轨道能级。而相邻元素的同种能级的谱线相隔较远,相互干扰少,元素定性的标识性强。

3、是一种无损分析。

4、是一种高灵敏超微量表面分析技术。分析所需试样极少量即可,样品分析深度0.5-10nm 。

二、X 射线光电子能谱法的应用:

1、元素定性分析

2、元素定量分折

3、固体表面分析

4、化合物结构签定

样品要求

1.预处理尺寸要求:块状/片状/薄膜:长宽厚不超出1 cm × 1 cm × 3 mm(磁性样品尽量小)(对块状样品或薄膜样品的测试面做好标记);粉末样品大于200目,不少于10mg,量少请用称量纸包好再装到管子里寄送。请勿用手触摸样品表面,会引入污染。制好样后请尽快密封,避免其他物质污染;

2.送样前样品需充分干燥,否则影响仪器真空度。高分子样品在送样前应进行干燥处理。若含有高挥发性分子等请务必烘烤;

3.样品含有硫或碘等卤族元素请务必填写或者提前告知,避免污染高真空系统;

4.样品在超高真空及在X射线、紫外线、电子束或Ar离子束照射下应稳定,不分解、不释放气体。

活动价格为:全谱+分谱,含C3个元素,非磁

项目案例

XPS全谱

XPS高分辨分谱

Co /CNF-700 的 Co 2p 高分辨图谱

Co-CNF-700 的 C 1s高分辨图谱

常见问题
1、Mg靶与Al靶的区别?

能量不同,分辨率不同,Mg靶分辨率高,Al靶能量高。

2、XPS是否任何元素都可以测?

除H和He以外的元素。

3、XPS表征的是样品的表面还是体相?

表面10nm以内。

4、XPS中,价带谱是什么?

计算价带位置,及能带中电子态密度随能量的分部,

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