预存
{{couponData.name}} ¥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ¥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}}
{{timeH}}:{{timeM}}:{{timeS}}

{{couponData.name}} ¥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ¥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}} ({{couponData.min_amount==1?'无门槛':'满'+Math.floor(couponData.min_amount)+'可用'}})

距失效

{{timeH}}

{{timeM}}

{{timeS}}

Document

当前位置:材料测试 ›  声光电磁 › 

薄膜热电参数测试系统(MRS)

99.8%

满意度

薄膜热电参数测试系统(MRS)

已 预 约:

827次

服务周期:

平均7个工作日完成
立即下单
咨询价格

收藏

如有设备采购需求,请联系专属顾问。
项目介绍

测试薄膜材料的塞贝克系数和电导率。

测试范围:塞贝克系数:S ≥ 8µV/K; 电阻率:0.1µΩ•m~ 106µΩ•m。

相对误差精度:赛贝克系数≤±5%,电阻率≤±5%;

温控方式/温度范围:81K-700K;

样品要求

1.样品满足上述样品尺寸,待测面需平整,薄膜均匀性好,保证与铜片接触良好;

2.薄膜材料厚度最低可至 50nm,其均匀性有较高要求,薄膜厚度达到微米级别较好,长 x 宽:10*10mm;

3.薄膜材料的衬底需选择电阻率较大或绝缘材料为宜,如玻璃、Si 等材料

项目案例

学术文章

薄膜热电参数测试系统(MRS)

立即下单