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角分辨光电子能谱(ARPES)

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角分辨光电子能谱(ARPES)

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项目介绍

可以研究费米面附近的局域能带结构,包括但不限于:重费米子材料(研究低温下局域的4f电子逐渐巡游的行为)、拓扑材料(例如拓扑绝缘体的Dirac cone)、高温超导(铜基超导体如Bi2212、Bi2223体系,铁基超导体如FeSe体系)。

样品要求

1.单晶(薄膜或可解理的块材)

2.原则上要导电(至少能够将样品表面接地)

3.尺寸: 0.1mm*0.1mm以上(通常建议不低于1mm*1mm)

4.可通过解理/退火获得新鲜表面或通过超高真空传输保持洁净的表面。

项目案例
常见问题
1、测试周期大概多久?

一般需要7-10个工作日

角分辨光电子能谱(ARPES)

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7天无理由
7天无理由免费复测
1. 复测保证

如果在订单完成之后7天内对结果存疑,可申请同条件免费复测,更换条件或者参数不能参与免费复测保障服务,全程由专业团队操作,确保结果有效性;

2. 具体细则

每单限1次复测机会,单次需小于5个样品; 此外免费复测样品必须为同一样,私人定制、云视频测试不可享受此服务;

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况(样品有问题/选错测试条件等)将不可享受此服务;

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