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二次离子质谱大科普！TOF-SIMS实例分析

二次离子质谱大科普！ TOF-SIMS 实例分析二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ， SIMS ）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出的二次离子因质量不同而飞行到探测器的时间不同，实现不同元素、同位素及分子结构的探测。一、...

2024-01-19

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2023-12-11

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