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    一文认识TOF-SIMS
    来源:本站 时间:2019-10-25 15:25:55 浏览:12046次

    一、TOF-SIMS的原理及特点

    飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS),是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子,根据二次离子飞行到探测器的时间不同来测定离子质量。由于TOF-SIMS中离子飞行时间只依赖于它们的质量,故其一次脉冲就可得到一个全谱,离子利用率很高,能实现对样品几乎无损的静态分析

    二次离子质谱的工作原理


    TOF-SIMS具有检测极限极低分辨率极高等优点,能实现在2-3个原子层对样品进行检测并给出二维和三维图像信息。目前TOF-SIMS主要用于有机样品的表面分析,如生物药品的有机物分析、半导体材料的污染分析、储能材料分析及有机分子碎片鉴定等。随着技术的改善,分析区域越来越小,TOF-SIMS在材料成分、掺杂和杂质污染等方面的分析中逐渐拥有不可替代的地位


    二、TOF-SIMS可为您解决的问题

    1 有机物的表面表征,可对元素进行面分布分析,分辨率为5~10nm。

    2 鉴别在金属、玻璃、陶瓷、薄膜或粉末表面上的有机物层或无机物层,能对有机物进行分析且直接输出其分子式。

    3 极小小面积分析,最小区域可达直径80nm。

    4 良好的深度分辨率(0.1-1nm),但溅射速率很慢(<1μm/H)。

    5 可给出样品的三维图像信息。

    6 同位素丰度分析......


    三、TOF-SIMS的应用举例

    (1)血清蛋白和溶菌酶薄膜分别吸附在硅烷上的典型正离子质谱


    (2)连用TOF-SIMS和SPRi分析多糖改性的有序表面的性质


    (3)通过TOF-SIMS像确定试样的主要成分


    (4)两种甘油二酯的TOF-SIMS质谱像


    (5)涂料在正负离子模式下的TOF-SIMS质谱


    (6)油漆画截面TOF-SIMS的全部离子流图像及典型元素的正离子像

    (图片来源:Falk Bernsmann,ToF-SIMS Investigations>)

    ——完——


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    12条评论
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    全部 3小时前 四川
    文字是人类用符号记录表达信息以传之久远的方式和工具。现代文字大多是记录语言的工具。人类往往先有口头的语言后产生书面文字,很多小语种,有语言但没有文字。文字的不同体现了国家和民族的书面表达的方式和思维不同。文字使人类进入有历史记录的文明社会。
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