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紫外可见近红外分光光度计(UV/VIS/NIR)

紫外可见近红外分光光度计(UV/VIS/NIR)

波长范围:190-3300nm,可测变温。

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荧光光谱(PL)

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振动样品磁强计(VSM)

振动样品磁强计(VSM)

2~400K

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微波网络分析仪/矢量网络分析仪(VNA)

微波网络分析仪/矢量网络分析仪(VNA)

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超导量子干涉磁测量(SQUID)

超导量子干涉磁测量(SQUID)

2k~400K,-5T~+5T,精度1x10^-7emu

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电化学分析

电化学分析

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四探针测试仪

四探针测试仪

RM100A 可以自动对样品进 行 mapping 测量,可以获得大面积样品全域电阻(率)分布信息。 适用于光伏面板、半导体晶圆检测以及新材料的高通量筛选等深层次研究场景。

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电阻率测试仪

电阻率测试仪

测量电池薄膜,半导体电气绝缘材料、电容器和印刷板,各种合成树脂和橡胶材料,表面电阻率,体积电阻,微电流测定,高电压加载时的半导体元件的泄漏电流,高灵敏度测量

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真空冷冻干燥机

真空冷冻干燥机

冷冻仪器充足,效率高。

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霍尔效应测试系统

霍尔效应测试系统

最高可到800K;磁场:-9T~9T;电阻: 10μΩ~10MΩ

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固体/薄膜表面ZETA电位仪

固体/薄膜表面ZETA电位仪

可测试金属块体、薄膜表面zeta电位。

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电导率

电导率

可测常温、变温电导率

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宽频介电常数测试仪

宽频介电常数测试仪

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椭偏仪

椭偏仪

入射角:55°-90°;波长范围:191nm-1687nm;温度范围:室温-600℃。

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铁电压电分析仪

铁电压电分析仪

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光催化产氢

光催化产氢

测试循环、筛选对比样品

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表面光电压谱仪(SPV)

表面光电压谱仪(SPV)

可测试材料SPV,TPV,SPC,TPC,相位谱

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塞贝克系数与电阻率测试系统

塞贝克系数与电阻率测试系统

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飞秒瞬态吸收

飞秒瞬态吸收

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光催化二氧化碳还原

光催化二氧化碳还原

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雾度测试

雾度测试

按照ASTM D1003标准,A方法是雾度计法测雾度,B方法是光度计法测雾度。

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击穿电压试验仪

击穿电压试验仪

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LAND测试系统(CT2001)

LAND测试系统(CT2001)

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阻抗分析仪

阻抗分析仪

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光电转化效率测试(IPCE)

光电转化效率测试(IPCE)

采用光源、光电反应池、电化学工作站组成光电反应分析系统,分析在不同光强、光谱的情况下的电化学。

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D33测试(压电常数测试)

D33测试(压电常数测试)

可广泛用于铁电、压电材料以及相关器件性能的评价与测试

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私人定制

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