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同步辐射GIWAXS/GISAXS测试

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同步辐射GIWAXS/GISAXS测试

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项目介绍

掠入射X射线散射(GIXS)包括掠入射广角散射(GIWAXS)和掠入射小角度散射(GISAXS),是基于同步辐射光源的X射线散射技术,用于表征表面或薄膜中的纳米级密度相关性、纳米物体形状以及晶格中的原子和分子距离,被广泛应用于研究有机太阳能电池、钙钛矿太阳能电池的形貌特征、晶体结构等。


例如在OPV材料结构研究中,GIWAXS被用来探测分子尺度、结构信息,常用于研究有机给体和受体材料在活性层中的分子堆叠,如结晶度、晶格常数和取向性。GISAXS可以看作是传统小角散射和全反射测量的结合,能够获得表面、薄膜、覆盖层中的纳米结构(如纳米颗粒、量子点等)的尺寸分布、形状以及排列分布的相关信息。


提供优质快速的GIXS测试和数据分析服务,目前已同南昌大学、南京理工、华南理工、电子科大等众多OPV、钙钛矿课题组开展测试合作。

样品要求

提示:GIWAXS/GISAXS测试有同步辐射光源和常规光源,请先根据文献或测试需求确认是否需要同步辐射光源测试GIWAXS/GISAXS。


1.样品测试请提供空白基底样,要求在空白基底上沉积与器件制备工艺一致的传输层且测试收费

2.基底多为单晶硅,可提供,若自行准备尺寸不可超过2.5*2.5cm,1*1cm最好,默认样品不回收

3.测试前请明确测试条件,如q值范围、掠入射角度范围、曝光时间等

4.如对数据格式、数据处理有疑问,请先浏览数据说明;

5.同步辐射项目测试为机时预约制,需测试前付费预约

6.请根据材料的耐氧、耐湿等性质,妥善封装样品;

7.如有任何测试相关问题,请联系负责人解答。

项目案例

Adv.Funct.Mater.2020,1909837:三元有机太阳能电池

J.Mater.Chem.A.2020.8.5458-5466:非富勒烯太阳能电池

常见问题
1、测试效果不好是什么原因导致?

散射信号会包含基底的信息,如不能完全扣除背底信号,就会导致无效信号干扰样品信号,同时以下情况也是原因之一

1.    制样不均匀,光斑打在了不合适位置;

2.    样品表面不平整,影响信号;

3.    掠入射角度选择不适宜;

4.    线站测试问题,如光束线不稳等。

2、积分是怎么获得的?

数据处理可以得到2D图,处理转换得到面内外积分,角度积分,并不是直接测试得出

3、测试波长是否可调节?

一般可以调节,需要先确认适用波长,并与线站沟通是否能达到条件。

同步辐射GIWAXS/GISAXS测试

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