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同步辐射散射数据处理

同步辐射散射数据处理

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项目介绍

掠入射X射线散射(GIXS)包括广角散射GIWAXS和小角度散射GISAXS,是基于同步辐射光源的X射线散射技术,用于表征表面或薄膜中的纳米级密度相关性、纳米物体的形状、以及晶格中的原子和分子距离,被广泛的应用于研究有机太阳能电池和钙钛矿太阳能电池的形貌特征,晶体结构等。

比如在OPV材料结构研究中,GIWAXS被用来探测分子尺度、结构信息,常用于研究有机给体和受体材料在活性层中的分子堆叠,如结晶度、晶格常数和取向性。GISAXS可以看作是传统小角散射和全反射测量的结合,能够获得表面、薄膜、覆盖层中的纳米结构(如纳米颗粒、量子点等)的尺寸分布、形状以及排列分布的相关信息。

提供优质快速的GIXS测试和数据分析服务,目前已经为南昌大学、南京理工、华南理工、电子科大等众多OPV和钙钛矿课题组开展了测试服务合作。

项目案例

样品要求

1.请提供测试条件,波长,std距离,q值范围,掠入射角度等,如在测试GO平台测试,提供订单号即可;

2.默认每个样品提供一个数据处理,对应一个曝光时间,如需对同样品进行多曝光时间数据处理,请提前与负责人联系确认,费用有所叠加;

3.数据处理提供2D图以及1D积分图,默认为面内外积分,如需角度积分,另收费,请提前与负责人联系;

4.数据处理请提供参考文献图,由于受出图软件限制,部分字体字号要求无法达到,2D图横坐标默认单位nm-1,需要其他单位请自行PS处理;

5.2D图出图默认信号最清晰的标尺,如需同组样品同标尺下对比,请提前注明组数。

6.对数据格式,数据处理有疑问请自行浏览数据说明;

7.有任何相关测试问题不明确,请联系负责人解答。

常见问题

Q1、数据处理可以做什么积分?


数据处理可以得到2D图,处理转换得到面内外积分,角度积分,

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