计算狗 (www.jisuango.com) 为测试狗兄弟品牌,主要为广大企事业单位科研团队及工作人员提供计算模拟、学习课程,讲座分享,科研众包以及定制化计算解决方案。

主要服务内容涉及催化,电池,能源,化工,生物医药等多领域,对客户的不同计算需求,可以给出从电子、原子、分子、以及更大的宏观体系都有专业的计算解决方案,我们可以使用 第一性原理、密度泛函理论(DFT)、量子化学、分子动力学、有限元仿真 等多种模拟手段去解决您的实验需求。

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聚焦离子束(FIB)

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预存价3500.00元起   挂牌价4000.00元起
已预约 495 99% 满意率
选择测试内容(预约必选)
TEM/EDS截面分析
SEM/EDS剖面分析
原位TEM芯片制样
TEM制样(不包含测试)
可做FIB-SEM、FIB-TEM和FIB加工
DELIVER INFORMATION
送样须知

送样须知:

1. 不能做能被磁铁吸起的粉末样品;

2. FIB-TEM块体样品可以有磁性,但是需要如实填写样品磁性情况;

3. 薄膜/块体样品最大不超过2cm,当样品过大需要切割取样;

4. 送样前,需在SEM电镜下确认好样品满足FIB的要求,并在样品表面做好标记,送样单上标注好SEM的切样位置,为FIB切样提供参考。

5. 下单时需要写清楚所有的测试要求,一次拍好。因为制备的TEM样品厚度50nm左右,二次测试过程中的取样,移动样品等都可能造成样品损坏,从而导致无法达到拍摄目的。

6. 重新制备样品和测试样品需要根据情况收取部分费用。


送样前请联系吴老师获得FIB-SEM测试需求单进行填写,电话和微信同号,19113533771。


FUNCTION INTRODUCTION
功能介绍

聚焦离子束技术(FIB):

聚焦离子束技术(Focused Ion beam,FIB)是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的离子束轰击材料表面,实现材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。FIB利用高强度聚焦离子束对材料进行纳米加工,配合扫描电镜(SEM)等高倍数电子显微镜实时观察,成为了纳米级分析、制造的主要方法。

可提供的服务:

TEM透射样品制备:对于表面薄膜、涂层、粉末大颗粒,块体等样品,在指定位置准确定位切割进行TEM样品的制备;

SEM/EDS剖面分析:FIB准确定位切割,制备截面样品,进行SEM和EDS能谱分析;

EBSD电子背散射衍射分析:进行晶体取向成像、显微织构、界面等分析;

微纳结构加工:在微纳结构操作机械手、Omniprobe操作探针、离子束切割等的配合下,进行各种微纳结构的搬运、各种显微结构形状或图案的加工。

FIB-TEM的制样流程

1)找到目标位置(定位非常重要),表面喷Cr保护(样品导电则不用喷Cr);

2)将目标位置前后两侧的样品挖空,剩下目标区域;

3)机械纳米手将这个薄片取出,开始离子束减薄;

4)减薄到理想厚度后停止;

5)将样品焊到铜网上的样品柱上,标注好样品位置。




TEST CASE
测试案例
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