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场发射扫描电镜(SEM)

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形貌
点扫EDS
线扫EDS
面扫Mapping
BSE
组合(形貌+能谱)
可拍磁性样;最大20万倍;

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测试联系人
陈老师:13183850086

送样须知

1、如提供TEM的形貌图片,无参考意义;

2、块体、片状、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm;粉末样品大于10mg

3、块体、片状、薄膜样品请标注测试面;粉末不能测试线扫

4、含样品测试时均需干燥后测试;

5、需备注照片倍数;每个样最多10张,需要张数请备注;

6、能谱备注理想区域,如有标尺要求请备注,如果没有备注,常规测试;

7、1-4号元素不能测试能谱;BCNOF等超轻元素能谱测试不准,望知晓;

8、图片不再区分最小标尺,最高倍数20万倍,取消500nm和100nm的区别;

9、送样请先检测磁性并如实告知,因为磁性未说明损伤仪器,需要承担维修费用;

10、关于冷场热场,下单请注明,无说明,随机安排;

11、能谱图上会有文字,不要文字的需要自己处理;

12、若有预期的形貌和标尺、放大倍数,最好在订单中以文字说明。

13、一些仪器由于软件限制,一些标尺无法输出。

14、能谱说明:点扫、线扫、面扫分别按照一个点、一条线、一个面计费,仅提供一张形貌图,并只用于展示测试位置。多个能谱按照个数计费。

功能介绍 测试案例 相关资料 相关文章

功能介绍

广泛应用于复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、生物材料、电子材料等块体、片状、薄膜样品的微观形貌分析及其成份定性分析

是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的工具。

测试案例

测试案例-20190326-SEM-修改大.jpg

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136-6626-1407

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PS:技术咨询请在相应项目详情页中联系技术老师!