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项目介绍

X光电子能谱法是一种表面分析方法，提供的是样品表面的元素含量与形态，一般，其信息深度约为10nm以内。如果辅以离子刻蚀手段，再利用XPS作为分析方法，则可以实现对样品的深度分析。

样品要求

1.预处理尺寸要求：块状/片状/薄膜：长宽厚不超出1 cm × 1 cm × 3 mm（特殊大尺寸xps最高厚度不超过25mm，磁性样品尽量小）（对块状样品或薄膜样品的测试面做好标记）；粉末样品大于200目，不少于10mg，量少请用称量纸包好再装到管子里寄送。请勿用手触摸样品表面，会引入污染。制好样后请尽快密封，避免其他物质污染；

2.送样前样品需充分干燥，否则影响仪器真空度。高分子样品在送样前应进行干燥处理。若含有高挥发性分子等请务必烘烤；

3.样品含有硫或碘等卤族元素请务必填写或者提前告知，避免污染高真空系统；

4.样品在超高真空及在X射线、紫外线、电子束或Ar离子束照射下应稳定，不分解、不释放气体。

项目案例

XPS全谱

XPS高分辨分谱

不同碳化温度下钴/碳纳米纤维复合材料的 XPS 全谱

Co /CNF-700 的 Co 2p 高分辨图谱

常见问题

1、Mg靶与Al靶的区别？

能量不同，分辨率不同，Mg靶分辨率高，Al靶能量高。

2、XPS是否任何元素都可以测？

除H和He以外的元素。

3、XPS表征的是样品的表面还是体相？

表面10nm以内。

4、XPS中，价带谱是什么？

计算价带位置，及能带中电子态密度随能量的分部，

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