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{{couponData.name}} ¥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ¥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}}
{{timeH}}:{{timeM}}:{{timeS}}

{{couponData.name}} ¥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ¥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}} ({{couponData.min_amount==1?'无门槛':'满'+Math.floor(couponData.min_amount)+'可用'}})

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{{timeH}}

{{timeM}}

{{timeS}}

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原位断层光谱

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原位断层光谱

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项目介绍

原位断层吸收光谱可表征薄膜不同深度处的组分分布、凝聚态结构、光学分布、电荷局域态密度的空间和能量分布等,从而揭示薄膜中光学作用和电荷输运的机制。本方法既可用于有机高分子的通用薄膜,也可用于功能薄膜。


原位断层吸收光谱主要包括原位紫外可见断层光谱仪原位红外断层光谱仪。

样品要求

1.仅适用于有机薄膜,厚度范围:2-500nm;

2.对于平整均匀薄膜,断层光谱的垂直空间分辨率优于2nm;对于不均匀薄膜,分辨率会下降;

3.吸收光谱和反射光谱均可测试;

4.若器件为半透明,可直接准备不覆盖无基层的“半器件”用于测试,例如您关心的器件为ITO/PEDOT/Active layer/PDINO/Ag,可提供ITO/PEDOT/Active layer/PDINO进行测试;如器件是不透明的,请提供透明基底制备的薄膜进行测试;

5.样品平面尺寸:大于0.5平方厘米。

项目案例

原位断层光谱

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7天无理由免费复测
1. 复测保证

如果在订单完成之后7天内对结果存疑,可申请同条件免费复测,更换条件或者参数不能参与免费复测保障服务,全程由专业团队操作,确保结果有效性;

2. 具体细则

每单限1次复测机会,单次需小于5个样品; 此外免费复测样品必须为同一样,私人定制、云视频测试不可享受此服务;

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况(样品有问题/选错测试条件等)将不可享受此服务;

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超时全额退
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超时全额退服务说明
1. 超时全额退

正常预约同步辐射XAFS测试固定机时且样品正常邮寄至对应测试线站,如无不可抗力影响(停电/掉光/自然灾害/政策影响等),测试超时5个工作日未发数据,全额退款。

2. 具体细则

以预约的固定测试机时时间后第一个工作日为起始日期,需满足完成下单、预约机时、按照预定时间送样条件,不满足前述条件的样品不参与此活动(具体时间预约请联系工作人员确认)。

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况,如风险测试样、样品不满足测试要求,将不可享受此权益(样品风险及测试等问题可在下单前联系工作人员确认);非固定测试机时的订单不参与超时全额退,其他测试权益正常(详情可联系工作人员)。

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