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    黄燕

    TEM测试工程师

    3年透射电镜（TEM）测试及管理经验。精通透射电子显微技术，专长于材料微结构表征。

    项目介绍

    1. 主要用于无机材料（粉体）微结构与微区组成的分析和研究，不适用于有机和生物材料；

    2. 表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等；

    3. 成像：衍衬像、高分辨像（HRTEM）、扫描透射像；

    4. 微区成分： EDS 能谱的点、线和面分析，电子选区衍射。

    样品要求

    注意：TEM云现场/现场机时有限，下单前请先跟工作人员联系，沟通拍摄要求并确认预约时间后再下单！

    1. 粉末5mg，液体0.5ml；不含易分解的有机物质；不含有毒有害物质；含有硫S单质样品，无法拍摄；若样品容易变质需要指明；液体请指明溶剂；

    2. 多数分子筛不稳定，拍不出清晰的晶格条纹；碳点和量子点的样品尺寸小，拍摄效果与样品质量关系非常大，请合理分析拍摄结果不符合预期的原因；

    3. 样品拍摄图片数量：TEM10张左右，HRTEM包含TEM共15张左右；

    4. 可接受非磁性和弱磁性样品，弱磁样品只接受粉末，方便判断磁性的强弱。含铁、钴、镍、锰、钌等磁性元素的样品定义为磁性样品；请仔细检查样品磁性，因隐瞒样品信息导致仪器损坏的，需要您承担全部赔偿责任。

    项目案例

    高分辨HRTEM

    衍射SAED

    点扫EDS

    线扫EDS

    面扫Mapping

    面扫Mapping

    Chemical Engineering Journal., 417 (2021) 128189： Li2Ti1/3Ni1/3Mn1/3O2F and Li2Ti1/3Ni1/3Fe1/3O2F

    TEM, HRTEM, and SAED characterizations of FeF3·0.33H2O

    常见问题
    1、拍摄TEM样品，分辨效果不好有哪些原因？

    可能是样品太厚，TEM样品厚度大于100nm时，电子束不易穿透，导致效果不好；

    可能样品稳定性太差，拍摄高分辨的时候样品易发生变化，导致拍摄只能以抓拍形式，清晰度会受影响，或者拍摄过程中样品直接消失（例：拍摄由水热法产生的碳的量子点，低倍时能看到量子点，在高倍拍摄晶格条纹时样品在聚焦未完成时就消失了，在同一位置再调节到低倍拍摄，发现量子点消失）。

    2、 影响TEM成像的因素有哪些？

    主要有相位衬度（相位差引起）、振幅衬度（包括质厚衬度、衍射衬度），一般测试中主要考虑质厚衬度（质量、厚度），其中厚度又是主要的因素。

    3、明场像与暗场像成像的区别？

    明场像成像是将衍射束遮挡住，只让透射束参与成像；暗场像成像是将透射束遮挡住，只让一束较强的衍射束成像。由此可知，只有含有晶体类物质衍衬像，才存在明暗之分。

    4、为什么没有N的样品，能谱测试却有很多N元素呢？

    在Mapping的测试中，C N O的分辨较差，在有氧的地方通常能扫出碳和氮，能谱下C N O三种元素不能很好的区分，会互相干扰，如果要进行N的测试，最好不用能谱，用EELS（电子能量损失谱）较好。

    5、为什么Mapping测试看起来不清晰？

    可能是因为含量低，在Mapping测试中，清晰度跟信号强度有关，而信号强度就是元素的含量。

    6、Mapping中，为什么有些部位很亮？

    太亮是因为X射线信号强，可能是样品对电子散射能力强（重金属元素常见），或者是样品太厚（透射减少，反射增加）。

    7、EDS（EDX）与Mapping有什么区别？能谱中的K、L什么意思？

    EDS（EDX）与Mapping的本质一样，Mapping就是EDS以扫描形式在样品表面逐点进行。

    K L M是指测试时采用不同线系，一般采用K L，较轻的选K，较重的选L。

    8、为什么没有DM3格式的图片？

    现在FEI使用自己的CCD，没有再用Gatan的CCD了，不能导出dm3文件，但是格式可以转化。

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