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塞贝克系数与电阻率测试系统

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塞贝克系数与电阻率测试系统

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项目介绍

塞贝克效应（Seebeck effect）又称作第一热电效应，是指由于两种不同电导体或半导体的温度差异而引起两种物质间的电压差的热电现象。一般规定热电势方向为：在热端电子由负流向正。

原理：

半导体效应

产生Seebeck效应的主要原因是热端的载流子往冷端扩散的结果。例如p型半导体，由于其热端空穴的浓度较高，则空穴便从高温端向低温端扩散；在开路情况下，就在p型半导体的两端形成空间电荷（热端有负电荷，冷端有正电荷），同时在半导体内部出现电场；当扩散作用与电场的漂移作用相互抵消时，即达到稳定状态，在半导体的两端就出现了由于温度梯度所引起的电动势——温差电动势。自然，n型半导体的温差电动势的方向是从低温端指向高温端（Seebeck系数为负），相反，p型半导体的温差电动势的方向是高温端指向低温端（Seebeck系数为正），因此利用温差电动势的方向即可判断半导体的导电类型。


金属效应

①电子从热端向冷端的扩散。然而这里的扩散不是浓度梯度（因为金属中的电子浓度与温度无关）所引起的，而是热端的电子具有更高的能量和速度所造成的。显然，如果这种作用是主要的，则这样产生的Seebeck效应的系数应该为负。

②电子自由程的影响。因为金属中虽然存在许多自由电子，但对导电有贡献的却主要是Fermi能级附近2kT范围内的所谓传导电子。而这些电子的平均自由程与遭受散射（声子散射、杂质和缺陷散射）的状况和能态密度随能量的变化情况有关。

样品要求

1. 块体/棱柱体：(2-5mm)*(2-5mm)*(10-18)mm 或 长10-12mm（最好11mm），宽2-4mm，高2-3mm ；至少有一个边长大10mm，另外两边最好大于3mm，2mm属于极限 
2. 圆柱体：直径2-4mm，长度8到23mm 
3. 薄膜：(0.5-1mm)*(2-5mm)*(10-18)mm 或 长14mm左右，宽3-4mm；
4. 粉末样至少大于0.5g，否则片不均匀

项目案例

常见问题
1、薄膜样品涂了银浆很久还能继续测试吗？

不能，薄膜样品涂了银浆久了就没法测试了，需要重新制样，银浆久了接触会有问题。

2、 测变温时，为什么数据一个温度点会有多个数据？

因为多个温度点的时候，每一个氛围温度点不一定只测一次，每个点都有对应的实测氛围温度。


3、测试塞贝克的时候能和电阻率一起测吗？

是一起测。


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塞贝克系数与电阻率测试系统

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如果在订单完成之后7天内对结果存疑,可申请同条件免费复测，更换条件或者参数不能参与免费复测保障服务，全程由专业团队操作，确保结果有效性；

2. 具体细则

每单限1次复测机会，单次需小于5个样品; 此外免费复测样品必须为同一样，私人定制、云视频测试不可享受此服务；

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况(样品有问题/选错测试条件等)将不可享受此服务；

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超时全额退
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超时全额退服务说明
1. 超时全额退

正常预约同步辐射XAFS测试固定机时且样品正常邮寄至对应测试线站，如无不可抗力影响（停电/掉光/自然灾害/政策影响等），测试超时5个工作日未发数据，全额退款。

2. 具体细则

以预约的固定测试机时时间后第一个工作日为起始日期，需满足完成下单、预约机时、按照预定时间送样条件，不满足前述条件的样品不参与此活动（具体时间预约请联系工作人员确认）。

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况，如风险测试样、样品不满足测试要求，将不可享受此权益（样品风险及测试等问题可在下单前联系工作人员确认）；非固定测试机时的订单不参与超时全额退，其他测试权益正常（详情可联系工作人员）。

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