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    塞贝克系数与电阻率测试系统

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    塞贝克系数与电阻率测试系统

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    项目介绍

    塞贝克效应(Seebeck effect)又称作第一热电效应,是指由于两种不同电导体或半导体的温度差异而引起两种物质间的电压差的热电现象。一般规定热电势方向为:在热端电子由负流向正。

    原理

    半导体效应

    产生Seebeck效应的主要原因是热端的载流子往冷端扩散的结果。例如p型半导体,由于其热端空穴的浓度较高,则空穴便从高温端向低温端扩散;在开路情况下,就在p型半导体的两端形成空间电荷(热端有负电荷,冷端有正电荷),同时在半导体内部出现电场;当扩散作用与电场的漂移作用相互抵消时,即达到稳定状态,在半导体的两端就出现了由于温度梯度所引起的电动势——温差电动势。自然,n型半导体的温差电动势的方向是从低温端指向高温端(Seebeck系数为负),相反,p型半导体的温差电动势的方向是高温端指向低温端(Seebeck系数为正),因此利用温差电动势的方向即可判断半导体的导电类型。


    金属效应

    ①电子从热端向冷端的扩散。然而这里的扩散不是浓度梯度(因为金属中的电子浓度与温度无关)所引起的,而是热端的电子具有更高的能量和速度所造成的。显然,如果这种作用是主要的,则这样产生的Seebeck效应的系数应该为负。

    ②电子自由程的影响。因为金属中虽然存在许多自由电子,但对导电有贡献的却主要是Fermi能级附近2kT范围内的所谓传导电子。而这些电子的平均自由程与遭受散射(声子散射、杂质和缺陷散射)的状况和能态密度随能量的变化情况有关。

    样品要求

    1. 薄膜:4mm(可略大一点)*12mm(要尽量在12mm左右);
    2. 块状:长和宽不超过2-4mm,高不小于8mm;

    3. 升温过程中样品稳定,不能释放出气体,不能有较明显的体积膨胀,测试是探针接触,以免损坏仪器。

    项目案例

    常见问题
    1、薄膜样品涂了银浆很久还能继续测试吗?

    不能,薄膜样品涂了银浆久了就没法测试了,需要重新制样,银浆久了接触会有问题。

    2、 测变温时,为什么数据一个温度点会有多个数据?

    因为多个温度点的时候,每一个氛围温度点不一定只测一次,每个点都有对应的实测氛围温度。


    3、测试塞贝克的时候能和电阻率一起测吗?

    是一起测。


    塞贝克系数与电阻率测试系统

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