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项目介绍

四探针法基于基尔霍夫电流定律（KCL）和基尔霍夫电压定律（KVL）进行测量。在进行四探针法测试时，首先需要在被测器件的四个端口上分别连接四个探针，形成一个闭合的四端口网络。然后，通过测量四个端口的电流和电压，可以得到被测器件的电阻参数。

1、固体导体的电阻率可以通过欧姆定律和电阻定律测量；

2、测试得到的电阻可以通过换算得到电导率；

3、电导和电阻的关系，如果R是电阻（单位欧姆Ω），电导为G（单位西门子S），则：G = 1/R；

4、电阻=方阻x膜厚；

样品要求

1.粉末样品需压片测试，质量大于50mg 或者体积大于2-3ml；

2.薄膜，提供准确膜厚，厚度均匀；

3.块体上下平行，最好抛光处理；

4.常温样品尺寸直径或者长度最少10mm；

5.变温样品尺寸小于10x10mm，厚度大于0.3mm小于2mm；

6.表面整洁，不污染探针；

注：粉末压片会影响测试结果，不支持免费复测，支持压片后送样。

项目案例

常见问题

1、测试的是表面电阻还是体积电阻？

表面电阻。

2、能得到电导率吗？

可以，G=1/R。

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