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    热刺激电流仪(TSC)

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    热刺激电流仪(TSC)

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    项目介绍

    研究热刺激理论的方法即热刺激法比较简单实用而且又能较准确地测量出某些物质(如电介质、绝缘材料、半导体、驻体等)的微观参数,热刺激法是面对材料升温面进行测量,即 非等温测量。

    由于材料(例如介电材料)中的荷电粒子的微观参数(如活化能H、松弛时间等)不同,用热刺激法就 很容易将材料中的各种不同H或松弛时间的荷电粒子分离开来,从而求出各自的参数。

    因为热刺激电流与材料的这 些参数(如H与松弛时间)密切相关,故它是种研究介电材料、绝缘材料、半导体材料等的有效手段。

    TSC是指当样品受到电场化后,去掉电场,热激时,样品从化态转变到平衡态的过程中,在外电路中得到的电流,称为热激退化电流( (Thermally  StimulatedDepolarization  urrent-T-TSC 或TSD)。

    当然,热激电流也可以是热激化电流,即样品在同时加电场及线性升温时,从平衡态转变到化态过程中的电流。


    热刺激电流法(TSC  C:thermallyStimulated  urrent))在研究介质物理的基础上建立并发展起来的,可用于研究介质的微观分子运动。通过TSC曲线可以比较方便地研究介质材料中陷阱、偶子和可动离子的性质,准确地测量介 质材料的活化能E或陷阱深度)、以及弛豫时间等微观参数。

    样品要求

    1.样品直径最好在3cm左右;

    2.设备最大电压为999V;

    3.测试均不提供喷金服务 如果样品需要喷金请送样前喷好(0.01mm级别的极薄样品喷金容易穿透 请知悉)

    项目案例

    测试条件

    测试数据样板

    热刺激电流仪(TSC)

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