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多功能缺陷荧光光谱仪

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多功能缺陷荧光光谱仪

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项目介绍
  • 多功能缺陷荧光光谱仪是一种专门用于研究固体发光材料中缺陷结构和发光机制的综合性分析仪器。

它最核心的特点,是将热释光、光释光和辐射发光等多种测量模式集成于一体,特别适合分析材料中的陷阱能级、发光中心类型等微观缺陷信息。与普通的荧光光谱仪不同,它配置了变温系统和多种激发光源,能提供更丰富的三维光谱数据。

  • 核心功能与参数

多种测量模式:可以实现热释光/光释光的三维光谱与发光曲线、辐射发光光谱、余辉衰减光谱/曲线以及X射线荧光谱的测量。

宽温度控制范围:高稳定性加热器,温度范围通常在300-650 K,可分析从浅能级到深能级的缺陷陷阱。

宽光谱探测范围:通常采用高灵敏度CCD和单光子PMT探测器,波长范围覆盖 350-900 nm(紫外至近红外),部分配置可定制或扩展。

  • 主要应用领域

它主要用于需要深入了解材料内部缺陷和发光动力学的科学研究,典型对象包括:

闪烁体材料:用于辐射探测器的发光材料。

长余辉材料:俗称“夜光粉”,研究其余辉衰减特性。

辐射剂量材料:用于热释光/光释光个人剂量计。

地质/考古样品:通过释光特性进行测年分析。

样品要求

1.粉末样品质量需大于0.1g;块体样品尺寸要求直径小于10 mm,厚度小于2 mm。

项目案例

热释光三维光谱

常见问题
1、什么是二维热释光和三维热释光?

答:二维热释光是关于温度与发光强度的关系图谱。热释光三维发光谱,即包含温度和波长与发光强度的三维图谱。热释光测定有助于识别发光中心的类型和了解相关的缺陷结构,为热释光和光释光的发光机制研究提供新的参数。

多功能缺陷荧光光谱仪

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每单限1次复测机会,单次需小于5个样品; 此外免费复测样品必须为同一样,私人定制、云视频测试不可享受此服务;

3. 注意事项

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1. 超时全额退

正常预约同步辐射XAFS测试固定机时且样品正常邮寄至对应测试线站,如无不可抗力影响(停电/掉光/自然灾害/政策影响等),测试超时5个工作日未发数据,全额退款。

2. 具体细则

以预约的固定测试机时时间后第一个工作日为起始日期,需满足完成下单、预约机时、按照预定时间送样条件,不满足前述条件的样品不参与此活动(具体时间预约请联系工作人员确认)。

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况,如风险测试样、样品不满足测试要求,将不可享受此权益(样品风险及测试等问题可在下单前联系工作人员确认);非固定测试机时的订单不参与超时全额退,其他测试权益正常(详情可联系工作人员)。

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