纳米二次离子质谱（Nano-SIMS）-测试狗科研服务

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纳米二次离子质谱（Nano-SIMS）

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纳米二次离子质谱（Nano-SIMS）

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项目介绍

Nano-SIMS（Nanoscale Secondary Ion Mass Spectrometry，纳米二次离子质谱）是一种超高空间分辨率的“化学＋同位素”成像技术。它用极细的离子束轰击样品表面，溅射出二次离子，再用磁质谱对离子进行质量分离和计数，从而给出元素或同位素在纳米—亚微米尺度的二维或三维分布图。

NanoSIMS 50L 在高横向分辨率下优化了SIMS分析性能。该仪器的开发借鉴了离子束和二次离子提取的同轴光学设计以及具有多接收功能的原始扇形磁质量分析仪。

NanoSIMS 50L能同时提供以下关键性能：

1. 高分析空间分辨率（低至50纳米）

2. 高灵敏度（元素成像中的ppm）

3. 高质量分辨率（M/dM）

4. 并行采集七种不同质荷比离子

5. 快速采集（直流模式，不发生脉冲）

6. 能够分析电绝缘样品经过改良，现在可实现千分之十几的同位素比值再现性。

样品要求

1. 一般要求样品无磁性，无法测试磁性样品；

2. 支持多种样品尺寸，具体请联系技术负责人；

3. 适合微区元素（Li~U）成像和黄铁矿的S同位素测试；