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原子力显微镜AFM测试对样品的要求

来源：时间：2023-02-06 16:51:29 浏览：811次

原子力显微镜(AFM)是一种高灵敏度的结构分析技术，它可以精确地分辨出样品的微小结构特征，从而提供有关样品的三维形貌和结构信息。由于它的高灵敏度和分辨率，AFM已经成为在生物学、物理学、材料科学和化学等领域的最常用的分析技术之一。

原子力显微镜

要进行AFM原子力显微镜分析，样品必须能够吸附到平板上。因此，样品的表面应该是光滑的，无明显污渍和油污，且应该是静电性的，以确保良好的吸附效果。对于有机物，应该有足够的疏水性，以保证平整的表面并防止吸附液污染样品。对于无机物，通常需要在表面上涂覆一层非晶膜，以改善表面的光滑度和疏水性。此外，由于AFM反应较为敏感，因此样品表面的温度也应该保持稳定，以保证精确的测量结果。

在实际的AFM电镜分析中，一般还要求样品表面的平整度和粗糙度，以及样品表面的形貌，都应该尽可能达到最佳状态。AFM电镜可以在空气中研究样品，但是这样的研究结果容易受到湿度的影响，因此应尽量避免在空气中研究。如果要在液体中研究，应使用适当的液体，以防止样品溶解或氧化。

总之，要进行AFM电镜分析，样品的表面应该光滑、无污染，并具有适当的疏水性和静电性，表面的形貌应该尽可能达到最佳状态，而且温度应该保持稳定。如果要在液体中研究，应使用适当的液体，以防止样品溶解或氧化。

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