偏光显微镜测试_矿物分析鉴定-测试狗科研服务

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马骋

XRD、UPS、XPS、DLS、GIXRD、2D-WAXD、AFM-IR测试工程师

具有多年XPS、DLS等操作经验。精通XPS技术在材料表征上的应用，尤其在催化、电池材料的峰形处理方面具有丰富经验和实操技能。同时，在DLS样品制备和浓度效应分析上有独到的理解和实践经验。

项目介绍

岩石矿物薄片鉴定方法；

偏光显微镜下透明矿物的鉴定观察与描述；

岩石矿物薄片分析，火成岩、沉积岩、变质岩等薄片鉴定、照片分析总结及地质应用。

样品要求

1. 样品尺寸小于20X20 mm，厚度小于15mm；

2. 请注明样品成分与类型。

项目案例

常见问题

1、偏光显微镜的原理。

将普通光改变为偏振光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射（各向同性）或双折射（各向异性）。双折射是晶体的基本特性，因此广泛地应用在矿物、化学等领域。

学术文章

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