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项目介绍

1、测量原理：通过CCD阵列，利用影线检测技术测量全反射的临界角折光率标准（RI）；

2、折光率标准（RI）范围：1.3-1.72，内置Peltier 半导体恒温控制器：控温范围：10-85℃，控温精度0.002 °C；

3、对于折光率的准确度，次仪器为±0.00002 nD

样品要求

1. 主要是液体样品，样品需要透明，粉末或块状样品会没有信号。溶液样品需要5ml以上。强酸、强碱等腐蚀性样品不受；

2. 非水或醇溶液的样品需明确样品的溶解性(水、丙酮、乙醇等常规溶剂，便于清洗样品池)

项目案例

常见问题

1、折射率测试的主要方法？

答：（1）阿贝折射仪（临界角法）常用来测液体/薄膜的折射率

（2）V棱镜折光仪（采用比较法测试）

（3）精密测角仪

学术文章

03

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