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少子寿命测试仪

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少子寿命测试仪

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项目介绍

WT-2000少子寿命测试仪采用微波光电导衰减法(μ-PCD),实现非接触、非破坏性的少子寿命测试。能够测量硅材料中少数载流子的寿命,范围从0.1微秒到30微秒。使用904nm的激光进行激发,适合多种半导体材料的测试。测量结果分辨率高达0.1%,确保数据的准确性。

科研实验应用:1、半导体材料研究:用于测量硅片和其他半导体材料的少子寿命,评估材料的质量;2、光伏材料测试:在太阳能电池的研发中,测试材料的少子寿命直接影响电池效率;3、晶体生长过程监控:监测晶体生长过程中引入的缺陷,优化生产工艺;4、材料缺陷分析:通过测量少子寿命,分析材料中的杂质和缺陷分布。

SEMILAB WT-2000少子寿命测试仪技术参数:

型号WT-2000
平台小巧尺寸
加载中手动装填
激光两台激发激光器
探测器两个探测器
光谱区域从深紫外到1.7微米(或更远)
晶圆处理手动或半自动索引器
晶圆尺寸50毫米至200毫米


样品要求


常见问题
1、1. TRMC测试到底是干什么的?

简单说,就是用激光照一下你的材料,然后用微波探测它“反应快不快、能跑多远”,来判断这种材料做太阳能电池、光电探测器好不好用。

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少子寿命测试仪

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1. 复测保证

如果在订单完成之后7天内对结果存疑,可申请同条件免费复测,更换条件或者参数不能参与免费复测保障服务,全程由专业团队操作,确保结果有效性;

2. 具体细则

每单限1次复测机会,单次需小于5个样品; 此外免费复测样品必须为同一样,私人定制、云视频测试不可享受此服务;

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况(样品有问题/选错测试条件等)将不可享受此服务。

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超时全额退服务说明
1. 超时全额退

正常预约同步辐射XAFS测试固定机时且样品正常邮寄至对应测试线站,如无不可抗力影响(停电/掉光/自然灾害/政策影响等),测试超时5个工作日未发数据,全额退款。

2. 具体细则

以预约的固定测试机时时间后第一个工作日为起始日期,需满足完成下单、预约机时、按照预定时间送样条件,不满足前述条件的样品不参与此活动(具体时间预约请联系工作人员确认)。

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况,如风险测试样、样品不满足测试要求,将不可享受此权益(样品风险及测试等问题可在下单前联系工作人员确认);非固定测试机时的订单不参与超时全额退,其他测试权益正常(详情可联系工作人员)。

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