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常规测试
TOF-SIMS测试流程

TOF-SIMS测试流程

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静态二次离子质谱(TOF-SIMS)主要用于样品成像、成分定性鉴定; 三维成像、二维成像、质谱。对材料表面、界面的元素、分子结构进行分析,分析深度:表面1-3nm,检出限:ppm级别。

制样要求:

1、样品要求无磁性,粉末样品至少10mg

2、块体样品尺寸小于1cmx1cmX8mm,最小几毫米大小;

3、需要3D图请选择,默认没有;

4、深度分析具体测试费用与深度、离子有关;

5、如果测试需要和之前的同条件,送样务必提供之前测试条件;

6、正负离子分开测试,测试时间不叠加。



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