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平面激光干涉仪

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平面激光干涉仪主要用于光学玻璃光学非均匀性的精密测量，光学均匀性指同块玻璃中各点折射率相对于玻璃平均折射率的最大正、负偏差，用斐索平面干涉法进行测量。

样品要求

1.样品玻璃内应无肉眼可见的条纹、气泡等夹杂物;

2.样品尺寸根据玻璃产品大小而定，样品应有2个形状规则的通光面;

3.使用贴置板时，样品两通光面精磨，平行度不大于1′，平面度不大于0.03mm,表面粗糙度Ra=1.6;

4.不使用贴置板时，样品两通光面抛光，平行度不大于1′，面形N=0.07，△N=0.05，表面粗糙度Ra=0.012;

5.具体参照标准为：GB T 7962.2-2010 无色光学玻璃测试方法第2部分-光学均匀性。

常见问题

Q1、什么是斐索平面干涉法？

答：标准平面与待检面之间形成一定的倾角，改变其间空气楔的方位和大小，则两相干光速的光程差沿空气楔主截面方向逐渐变化，从而形成等厚干涉条纹。此种干涉称为斐索平面干涉。

Q2、斐索平面干涉法测量光学均匀性的光学原理图？

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