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薄膜应力测试仪

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薄膜应力测试仪

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项目介绍

激光曲率法,基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进的激光扫描方式和探测技术,以及智能化的操作,使得FST5000薄膜应力仪特别适合于晶圆类光电薄膜样品的弓高、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力测量。

样品要求

1、样品尺寸最大12英寸,向下兼容10、8、6、 4、 3、 2、 1英寸

2、薄膜厚度目前没有明显要求(一般说的薄膜或者晶圆,厚度都是微米级~几个mm以内)

3、需要提供薄膜的厚度值,作为评估和测试的参考

4、测试一般分为两个步骤,先测一次没有镀膜的空白基底材料的曲率情况,镀膜完成后再测一次镀膜后引起的曲率变化,两者相减,计算得到薄膜应力。因此最好是镀膜前后分别送样测试,可以得到准确的应力结果,如果一次性提供一片空白基底以及镀膜以后的一片样品一起测试,也可得到相关数值,但是结果准确度会有降低

项目案例

6英寸硅晶圆衬底弓高翘曲曲线

6英寸硅晶圆衬底表面3D形貌

TiN金属薄膜表面3D形貌

3D轮廓

曲率/应力分布

弓高/翘曲度

薄膜应力测试仪

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