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动态二次离子质谱仪(D-SIMS)

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动态二次离子质谱仪(D-SIMS)

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项目介绍

动态二次离子质谱(D-SIMS)用气体等离子源轰击样品,使样品表面原子、分子或离子等溅射出来,用质量分析器接收溅射出的二次离子,通过分析其质荷比(m/z)得到的二次离子质谱。

相比TOF-SIMS,D-SIMS有更强的深度分析能力,分析深度能达到5~10μm,且剖析过程中可以连续测试元素信息;深度分辨率和检出限比TOF高很多,分析面积100、200、300μm见方居多,面积越大溅射速率越慢。

样品要求

样品要求:以固态薄层、表面平整材料为主,比如衬底或者薄膜;粉末、已封装或者有结构之类的特殊样品需要进行适当制备;

1. 尺寸要求:5~10mm之间,厚度不超过1mm,真空保存,标记清楚测试面;

2. 分析面积100、200、300μm见方居多,面积越大溅射速率越慢;

3. 分析深度一般在5μm之内,但不超过10μm;

4. 部分样品可以定量分析(比如:常见的硅中各种掺杂B、P、As等,各类化合物半导体及其多层结构等),取决于是否有合适的标准样品。

项目案例

D-SIMS原位测试

网格硅的SIMS图谱和Mapping成像

动态二次离子质谱仪(D-SIMS)

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1. 复测保证

如果在订单完成之后7天内对结果存疑,可申请同条件免费复测,更换条件或者参数不能参与免费复测保障服务,全程由专业团队操作,确保结果有效性;

2. 具体细则

每单限1次复测机会,单次需小于5个样品; 此外免费复测样品必须为同一样,私人定制、云视频测试不可享受此服务;

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况(样品有问题/选错测试条件等)将不可享受此服务;

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超时全额退服务说明
1. 超时全额退

正常预约同步辐射XAFS测试固定机时且样品正常邮寄至对应测试线站,如无不可抗力影响(停电/掉光/自然灾害/政策影响等),测试超时5个工作日未发数据,全额退款。

2. 具体细则

以预约的固定测试机时时间后第一个工作日为起始日期,需满足完成下单、预约机时、按照预定时间送样条件,不满足前述条件的样品不参与此活动(具体时间预约请联系工作人员确认)。

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况,如风险测试样、样品不满足测试要求,将不可享受此权益(样品风险及测试等问题可在下单前联系工作人员确认);非固定测试机时的订单不参与超时全额退,其他测试权益正常(详情可联系工作人员)。

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