动态二次离子质谱仪（D-SIMS）-测试狗科研服务

预存

{{couponData.name}} ￥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折￥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}}

{{timeH}}:{{timeM}}:{{timeS}}

{{couponData.name}} ￥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折￥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}} （{{couponData.min_amount==1?'无门槛':'满'+Math.floor(couponData.min_amount)+'可用'}}）

距失效

{{timeH}}

时

{{timeM}}

分

{{timeS}}

秒

Document

当前位置：材料测试 › 成分分析 ›

动态二次离子质谱仪（D-SIMS）

98%

满意度

动态二次离子质谱仪（D-SIMS）

预存专享优惠

已预约：

2704次

服务周期：

平均10个工作日完成

立即下单

咨询价格

收藏

如有各类设备采购需求，请联系专属顾问。

项目介绍

动态二次离子质谱(D-SIMS)用气体等离子源轰击样品,使样品表面原子、分子或离子等溅射出来，用质量分析器接收溅射出的二次离子，通过分析其质荷比(m/z)得到的二次离子质谱。

相比TOF-SIMS，D-SIMS有更强的深度分析能力，分析深度能达到5~10μm，且剖析过程中可以连续测试元素信息；深度分辨率和检出限比TOF高很多，分析面积100、200、300μm见方居多，面积越大溅射速率越慢。

样品要求

样品要求：以固态薄层、表面平整材料为主，比如衬底或者薄膜；粉末、已封装或者有结构之类的特殊样品需要进行适当制备；

1. 尺寸要求：5~10mm之间，厚度不超过1mm，真空保存，标记清楚测试面；

2. 分析面积100、200、300μm见方居多，面积越大溅射速率越慢；

3. 分析深度一般在5μm之内，但不超过10μm；

4. 部分样品可以定量分析（比如：常见的硅中各种掺杂B、P、As等，各类化合物半导体及其多层结构等），取决于是否有合适的标准样品。

项目案例

D-SIMS原位测试

网格硅的SIMS图谱和Mapping成像

学术文章

25

一文读懂D-SIMS

动态-二次离子质谱（D-SIMS）用气体等离子源轰击样品,使样品表面原子、分子或离子等溅射出来，用...

04

静态二次离子质谱的工作原理和主要优势

静态二次离子质谱的工作原理和主要优势静态二次离子质谱（ SIMS ）是一种高灵敏度、高分辨率的...

14

动态二次离子质谱技术(D-SIMS)改变表面分析的局限性

动态二次离子质谱技术 (D-SIMS) 改变表面分析的局限性动态二次离子质谱技术（ Dynam...

项目推荐

文章推荐

动态二次离子质谱仪（D-SIMS）

立即下单

举报有奖

TEL: 191-3608-6524

如：在网络上恶意使用“测试狗”等相关关键词误导用户点击、恶意盗用测试狗商标、冒称官方工作人员等情形，请您向我们举报，经查实后，我们将给予您奖励。

举报内容：

200

上传附件：

文件格式不正确，请重新上传文件格式不正确，请重新上传文件格式不正确，请重新上传

文件格式：jpg、jpeg、png、gif、tif、doc、docx、ppt、pptx、xls、xlsx、pdf、zip、rar

联系方式

姓名

电话

提交意见

意见反馈

Suggestions

您可以在此留下您宝贵的意见，您的意见或问题反馈将会成为我们不断改进的动力。

意见类型

测试服务

网站功能

财务报账

其他类型

意见内容

200

联系方式

姓名

电话

提交意见