电子通道衬度扫描成像(ECCI)-测试狗科研服务

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电子通道衬度成像（ECCI）

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电子通道衬度成像（ECCI）

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项目介绍

ECCI，全写为electron channeling contrast imaging，即电子通道衬度成像。

ECCI可以进行下列测试表征：

（1）原位试验（暂无测试）: 单轴、多轴、循环变形等试验，ECCI拥有原位表征能力，可以分析同一区域在不同变形阶段的位错表现；

（2）位错统计：ECCI表征面积较大，可以对一定范围内的位错进行定量或者半定量分析；

（3）特定位置位错分析：ECCI不需要减薄，即可以对裂尖、特定取向晶粒、应力集中位置等特殊位置的位错进行表征；

（4）环境试验：ECCI可以对腐蚀环境下的变形和失效样品位错进行表征。

样品要求

1. 样品应为晶体材料，表面具有良好的晶体结构；

2. 样品尺寸小于1 x 1 x 0.5cm；EBSD测试后的样品可直接测试；

3. 需要对样品进行抛光处理，获得平整的表面；

4. 给出拍摄倍数要求和图片张数要求；目前最多10张图。

项目案例

Dislocation cells

Dislocation cells with one activated twin system

Dislocation cells with two activated twin systems

常见问题

1、电子通道衬度成像（ECCI）技术的优势？

（1）样品制备简单和非破坏性：相比于透射电镜技术复杂的样品制样过程，用于ECCI表征的样品制备过程非常简单，只需将块状样品的表面抛光至镜面即可；对于特定取向的晶粒、应力集中区、失效开裂区的缺陷分析，ECCI 技术也只要通过常规的样品制备就可实现观察，无需FIB技术定点制备薄片样品；由于制样过程无需破坏样品，在ECCI表征后样品还可进行后续实验；

（2）高通量分析：结合扫描电镜的大视野和大像素成像技术特点，ECCI技术可实现大面积高通量的晶体缺陷采集，为实现晶体缺陷的统计分析提供可能；

（3）更高的分析灵敏度和分辨率，更高效率：ECCI技术利用扫描电镜高分辨成像，其数据采集效率高，图像分辨率高，对材料的形变灵敏，即使材料内部有较小的形变，也将在ECCI图像中看出端倪。

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