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    电子通道衬度成像(ECCI)

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    项目介绍

    ECCI,全写为electron channeling contrast imaging,即电子通道衬度成像。

    ECCI可以进行下列测试表征:

    1)原位试验(暂无测试): 单轴、多轴、循环变形等试验,ECCI拥有原位表征能力,可以分析同一区域在不同变形阶段的位错表现;

    2)位错统计:ECCI表征面积较大,可以对一定范围内的位错进行定量或者半定量分析;

    3)特定位置位错分析:ECCI不需要减薄,即可以对裂尖、特定取向晶粒、应力集中位置等特殊位置的位错进行表征;

    4)环境试验:ECCI可以对腐蚀环境下的变形和失效样品位错进行表征。

    项目案例

    样品要求

    1. 样品应为晶体材料,表面具有良好的晶体结构

    2. 样品尺寸小于1  x 1  x 0.5cm;EBSD测试后的样品可直接测试

    3. 需要对样品进行抛光处理,获得平整的表面;

    4. 给出拍摄倍数要求和图片张数要求;目前最多10张图。

    常见问题

    Q1、电子通道衬度成像(ECCI)技术的优势?

    (1)样品制备简单和非破坏性:相比于透射电镜技术复杂的样品制样过程,用于ECCI表征的样品制备过程非常简单,只需将块状样品的表面抛光至镜面即可;对于特定取向的晶粒、应力集中区、失效开裂区的缺陷分析,ECCI 技术也只要通过常规的样品制备就可实现观察,无需FIB技术定点制备薄片样品;由于制样过程无需破坏样品,在ECCI表征后样品还可进行后续实验;

    (2)高通量分析:结合扫描电镜的大视野和大像素成像技术特点,ECCI技术可实现大面积高通量的晶体缺陷采集,为实现晶体缺陷的统计分析提供可能;

    (3)更高的分析灵敏度和分辨率,更高效率:ECCI技术利用扫描电镜高分辨成像,其数据采集效率高,图像分辨率高,对材料的形变灵敏,即使材料内部有较小的形变,也将在ECCI图像中看出端倪。

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