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动态二次离子质谱仪(D-SIMS)

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动态二次离子质谱仪(D-SIMS)在材料分析中的用途

动态二次离子质谱仪( D-SIMS )在材料分析中的用途 动态二次离子质谱仪 D-SIMS 是一种材料表面分析技术,它基于二次离子发射原理,利用高能离子束轰击样品表面,通过分析产生的二次离子来获取材料表面的化学信息。 D-SIMS 技术在材料科学、半导体、薄膜、生物医学、地质学等领域具有广泛的应用...

2023-12-14

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