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    动态二次离子质谱仪(D-SIMS)在材料分析中的用途

    动态二次离子质谱仪( D-SIMS )在材料分析中的用途 动态二次离子质谱仪 D-SIMS 是一种材料表面分析技术,它基于二次离子发射原理,利用高能离子束轰击样品表面,通过分析产生的二次离子来获取材料表面的化学信息。 D-SIMS 技术在材料科学、半导体、薄膜、生物医学、地质学等领域具有广泛的应用...

    2023-12-14

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    动态二次离子质谱技术(D-SIMS)改变表面分析的局限性

    动态二次离子质谱技术 (D-SIMS) 改变表面分析的局限性 动态二次离子质谱技术 ( Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry ,简称 D-SIMS )是一种先进的表面分析技术,它通过对样品表面进行高能离子轰击,产生微量的二次离子,并通过质量分析器对这些二次...

    2023-12-14

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    一文读懂D-SIMS

    动态-二次离子质谱(D-SIMS)用气体等离子源轰击样品,使样品表面原子、分子或离子等溅射出来,用质量分析器接收溅射出的二次离子,通过分析其质荷比(m/z)获得二次离子质谱。由于D-SIMS的离子源为高密度离子束(原子剂量10 12 ions/cm 2 ),对样品的溅射作用大,故是一种破坏性分析。...

    2019-10-25

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