预存
    {{couponData.name}} ¥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ¥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}}
    {{timeH}}:{{timeM}}:{{timeS}}

    {{couponData.name}} ¥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ¥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}} ({{couponData.min_amount==1?'无门槛':'满'+Math.floor(couponData.min_amount)+'可用'}})

    距失效

    {{timeH}}

    {{timeM}}

    {{timeS}}

    Document

    当前位置:材料测试 ›  结构分析 › 

    正电子湮灭寿命谱仪(PAT)

    98%

    满意度

    正电子湮灭寿命谱仪(PAT)

    已 预 约:

    1566次

    服务周期:

    平均10个工作日完成
    立即下单
    咨询价格

    收藏

    项目介绍

    正电子湮没技术(Positron Annihilation Technique,PAT),是一项较新的核物理技术,它利用正电子在凝聚物质中的湮没辐射带出物质内部的微观结构、电子动量分布及缺陷状态等信息,从而提供一种非破坏性的研究手段而备受人们青睐。

    目前已经成为研究物质微观结构、缺陷、疲劳等的新技术与手段。

    样品要求

    1.样品状态:粉末、块状/薄膜样品(粉末或厚度不够的薄膜需要压片);

    2.粉末样品:粉末的样品量需要能压成直径>10mm,厚度>1mm的2个圆片,按体积送样1-2ml左右;

    3.块状/薄膜样品:理想样品尺寸12×12×2mm;直径12×2mm(边长/直径>10mm,厚度>1mm)。

    项目案例
    常见问题
    1、怎么收费呢?

    项目目前为报价模式,根据测试要求和目的报价。

    2、正电子淹没在高分子行业的应用

    高分子薄膜研究中,可准确探测高分子薄膜微观缺陷(自由体积)尺寸、分数、浓度、深度分布,在高分子薄膜微结构与性能关系、表面效应、界面效应等方面发挥积极作用。纳米材料中研究晶粒界面结构和界面缺陷分布。

    3、测试材料的缺陷,下单需要选什么?

    解谱软件lifetime9.0+常规寿命谱+平均自由体积

    学术文章

    正电子湮灭寿命谱仪(PAT)

    立即下单