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正电子湮灭寿命谱仪(PAT)

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正电子湮灭寿命谱仪(PAT)

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项目介绍

正电子湮没技术(Positron Annihilation Technique,PAT),是一项较新的核物理技术,它利用正电子在凝聚物质中的湮没辐射带出物质内部的微观结构、电子动量分布及缺陷状态等信息,从而提供一种非破坏性的研究手段而备受人们青睐。

目前已经成为研究物质微观结构、缺陷、疲劳等的新技术与手段。

样品要求

1.样品状态:粉末、块状/薄膜样品(粉末或厚度不够的薄膜需要压片);

2.粉末样品:粉末的样品量需要能压成直径>10mm,厚度>1mm的2个圆片,按体积送样1-2ml左右;

3.块状/薄膜样品:理想样品尺寸12×12×2mm;直径12×2mm(边长/直径>10mm,厚度>1mm)。

项目案例
常见问题
1、正电子淹没在高分子行业的应用

高分子薄膜研究中,可准确探测高分子薄膜微观缺陷(自由体积)尺寸、分数、浓度、深度分布,在高分子薄膜微结构与性能关系、表面效应、界面效应等方面发挥积极作用。纳米材料中研究晶粒界面结构和界面缺陷分布。

2、测试材料的缺陷,下单需要选什么?

解谱软件lifetime9.0+常规寿命谱+平均自由体积。

正电子湮灭寿命谱仪(PAT)

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安心测服务说明
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7天无理由
7天无理由免费复测
1. 复测保证

如果在订单完成之后7天内对结果存疑,可申请同条件免费复测,更换条件或者参数不能参与免费复测保障服务,全程由专业团队操作,确保结果有效性;

2. 具体细则

每单限1次复测机会,单次需小于5个样品; 此外免费复测样品必须为同一样,私人定制、云视频测试不可享受此服务;

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况(样品有问题/选错测试条件等)将不可享受此服务;

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超时全额退
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超时全额退服务说明
1. 超时全额退

正常预约同步辐射XAFS测试固定机时且样品正常邮寄至对应测试线站,如无不可抗力影响(停电/掉光/自然灾害/政策影响等),测试超时5个工作日未发数据,全额退款。

2. 具体细则

以预约的固定测试机时时间后第一个工作日为起始日期,需满足完成下单、预约机时、按照预定时间送样条件,不满足前述条件的样品不参与此活动(具体时间预约请联系工作人员确认)。

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况,如风险测试样、样品不满足测试要求,将不可享受此权益(样品风险及测试等问题可在下单前联系工作人员确认);非固定测试机时的订单不参与超时全额退,其他测试权益正常(详情可联系工作人员)。

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