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正电子湮灭寿命谱仪（PAT）

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项目介绍

正电子湮没技术（Positron Annihilation Technique，PAT），是一项较新的核物理技术，它利用正电子在凝聚物质中的湮没辐射带出物质内部的微观结构、电子动量分布及缺陷状态等信息，从而提供一种非破坏性的研究手段而备受人们青睐。

目前已经成为研究物质微观结构、缺陷、疲劳等的新技术与手段。

样品要求

1.样品状态：粉末、块状/薄膜样品（粉末或厚度不够的薄膜需要压片）；

2.粉末样品：粉末的样品量需要能压成直径＞10mm，厚度＞1mm的2个圆片，按体积送样1-2ml左右；

3.块状/薄膜样品：理想样品尺寸12×12×2mm；直径12×2mm（边长/直径＞10mm，厚度＞1mm）。

常见问题

Q1、怎么收费呢？

项目目前为报价模式，根据测试要求和目的报价。

Q2、正电子淹没在高分子行业的应用

高分子薄膜研究中，可准确探测高分子薄膜微观缺陷（自由体积）尺寸、分数、浓度、深度分布，在高分子薄膜微结构与性能关系、表面效应、界面效应等方面发挥积极作用。纳米材料中研究晶粒界面结构和界面缺陷分布。

Q3、测试材料的缺陷，下单需要选什么？

解谱软件lifetime9.0+常规寿命谱+平均自由体积

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