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掠入射XRD（GIXRD）

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项目介绍

掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让×射线略过样品表面的技术，这种技术能够更真实全面地表征出薄膜（特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。

测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底，因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。

薄膜尺寸没有特别要求，但是需测试面平整光洁，不要有遮挡物。

样品要求

1、样品表面光滑平整，测试区域边缘处不要有遮挡，掠入射是平行光源，容易遮挡待测物质的信号；

2、粉末至少10mg，最好多一些；块体：长≤18mm，宽≤18mm，厚度≤2mm，不同的测试仪器要求的尺寸会有所不同，如有其他尺寸，可联系项目经理沟通确认。

常见问题

Q1、粉末样品量过少会有什么样的影响？

答：因为粉末样品要铺满整个样品台，样品量过少可能导致X射线打在样品台上，从而影响数据质量。

Q2、为什么部分样品的测试结果中衍射峰强度较低，甚至没有明显的衍射峰？

答：样品的衍射峰强度主要跟自身结晶度有关，结晶度越好，衍射峰越明显，其次才是样品量和仪器功率。

Q3、步长和扫描速度有何关联？扫描速度对样品的测量有何影响？

答：步长决定了扫描的精细程度，扫描速度是由步长和每步的时间决定的，每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长，步长越小，则谱越精细，信噪比越高，可用于定量计算，如XRD精修等。

Q4、XRD定量的精确度如何？

答：XRD为半定量分析，定量测试结果精确度有限，仅供参考。

Q5、为何有些样品的测试结果基线较高？能否改善？

答：有荧光散射现象的样品，如铁含量较高的样品，测试结果会出现基线较高的情况，这是无法改善的。

Q6、Cu靶的波长是多少？

答：Kα1=1.540538埃。

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