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    掠入射XRD(GIXRD)

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    项目介绍

    掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让×射线略过样品表面的技术,这种技术能够更真实全面地表征出薄膜(特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。

    测试光是平行光,相对于常规的衍射光来说能量较小,因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息,也不容易测到基底,因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。

    薄膜尺寸没有特别要求,但是需测试面平整光洁,不要有遮挡物。

    样品要求

    1、样品表面光滑平整,测试区域边缘处不要有遮挡,掠入射是平行光源,容易遮挡待测物质的信号;

    2、粉末至少10mg,最好多一些;块体:长≤18mm,宽≤18mm,厚度≤2mm,不同的测试仪器要求的尺寸会有所不同,如有其他尺寸,可联系项目经理沟通确认。

    常见问题

    Q1、粉末样品量过少会有什么样的影响?

    答:因为粉末样品要铺满整个样品台,样品量过少可能导致X射线打在样品台上,从而影响数据质量。

    Q2、为什么部分样品的测试结果中衍射峰强度较低,甚至没有明显的衍射峰?

    答:样品的衍射峰强度主要跟自身结晶度有关,结晶度越好,衍射峰越明显,其次才是样品量和仪器功率。

    Q3、步长和扫描速度有何关联?扫描速度对样品的测量有何影响?

    答:步长决定了扫描的精细程度,扫描速度是由步长和每步的时间决定的,每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长,步长越小,则谱越精细,信噪比越高,可用于定量计算,如XRD精修等。

    Q4、XRD定量的精确度如何?

    答:XRD为半定量分析,定量测试结果精确度有限,仅供参考。

    Q5、为何有些样品的测试结果基线较高?能否改善?

    答:有荧光散射现象的样品,如铁含量较高的样品,测试结果会出现基线较高的情况,这是无法改善的。

    Q6、Cu靶的波长是多少?

    答:Kα1=1.540538埃。

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