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    亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统（O-PTIR）

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    亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统（O-PTIR）

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    项目介绍

    亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统是一种多模态显微分析平台，通过整合红外光谱（IR）、拉曼光谱和荧光光谱技术，在亚微米尺度（<1 μm）实现样品的化学、结构和功能表征。其核心原理是利用近场光学技术（如s-SNOM或O-PTIR）突破红外衍射极限，结合共聚焦拉曼显微（~300 nm）和超分辨荧光成像（如STED/PALM，分辨率<50 nm），同步或交替获取分子振动信息（IR/Raman）与特定分子分布（荧光）。系统通过共享光学路径、时序分离激发和光谱滤波解决信号串扰，最终将多模态数据空间配准，提供官能团分布、分子结构及生物标记物的共定位分析，广泛应用于材料、生物及纳米科技领域。

    样品要求

    1、常规样品要求：待测无特征尺寸＞500nm，厚度＞500nm，无毒，无有机挥发物质

    2、样品表面平整度要求：单点采谱对平整度无要求，单波数成像一般小于5μm最佳；

    3、目前拉曼激发波长可选532nm或者785nm

    其他具体要求可具体沟通

    项目案例

    半导体失效以及污染测试实例

    O-PTIR检测玻璃基板（TGV型）上的粘合剂残留

    微电子器件截面污染物

    底部填充料污染分析

    项目介绍
    样品要求
    项目案例
    常见问题
    学术文章

    亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统（O-PTIR）

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    如果由于您自身样品的情况(样品有问题/选错测试条件等)将不可享受此服务；

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    1. 超时全额退

    正常预约同步辐射XAFS测试固定机时且样品正常邮寄至对应测试线站，如无不可抗力影响（停电/掉光/自然灾害/政策影响等），测试超时5个工作日未发数据，全额退款。

    2. 具体细则

    以预约的固定测试机时时间后第一个工作日为起始日期，需满足完成下单、预约机时、按照预定时间送样条件，不满足前述条件的样品不参与此活动（具体时间预约请联系工作人员确认）。

    3. 注意事项

    如果由于您自身样品的情况，如风险测试样、样品不满足测试要求，将不可享受此权益（样品风险及测试等问题可在下单前联系工作人员确认）；非固定测试机时的订单不参与超时全额退，其他测试权益正常（详情可联系工作人员）。

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