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亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统(O-PTIR)

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亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统(O-PTIR)

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项目介绍

亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统是一种多模态显微分析平台,通过整合红外光谱(IR)、拉曼光谱和荧光光谱技术,在亚微米尺度(<1 μm)实现样品的化学、结构和功能表征。其核心原理是利用近场光学技术(如s-SNOM或O-PTIR)突破红外衍射极限,结合共聚焦拉曼显微(~300 nm)和超分辨荧光成像(如STED/PALM,分辨率<50 nm),同步或交替获取分子振动信息(IR/Raman)与特定分子分布(荧光)。系统通过共享光学路径、时序分离激发和光谱滤波解决信号串扰,最终将多模态数据空间配准,提供官能团分布、分子结构及生物标记物的共定位分析,广泛应用于材料、生物及纳米科技领域。

样品要求

1、常规样品要求:待测无特征尺寸>500nm,厚度>500nm,无毒,无有机挥发物质

2、样品表面平整度要求:单点采谱对平整度无要求,单波数成像一般小于5μm最佳;

3、目前拉曼激发波长可选532nm或者785nm

其他具体要求可具体沟通

项目案例

半导体失效以及污染测试实例

O-PTIR检测玻璃基板(TGV型)上的粘合剂残留

微电子器件截面污染物

底部填充料污染分析

亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统(O-PTIR)

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1. 复测保证

如果在订单完成之后7天内对结果存疑,可申请同条件免费复测,更换条件或者参数不能参与免费复测保障服务,全程由专业团队操作,确保结果有效性;

2. 具体细则

每单限1次复测机会,单次需小于5个样品; 此外免费复测样品必须为同一样,私人定制、云视频测试不可享受此服务;

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况(样品有问题/选错测试条件等)将不可享受此服务;

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超时全额退服务说明
1. 超时全额退

正常预约同步辐射XAFS测试固定机时且样品正常邮寄至对应测试线站,如无不可抗力影响(停电/掉光/自然灾害/政策影响等),测试超时5个工作日未发数据,全额退款。

2. 具体细则

以预约的固定测试机时时间后第一个工作日为起始日期,需满足完成下单、预约机时、按照预定时间送样条件,不满足前述条件的样品不参与此活动(具体时间预约请联系工作人员确认)。

3. 注意事项

如果由于您自身样品的情况,如风险测试样、样品不满足测试要求,将不可享受此权益(样品风险及测试等问题可在下单前联系工作人员确认);非固定测试机时的订单不参与超时全额退,其他测试权益正常(详情可联系工作人员)。

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