预存
{{couponData.name}} ¥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ¥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}}
{{timeH}}:{{timeM}}:{{timeS}}

{{couponData.name}} ¥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ¥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}} ({{couponData.min_amount==1?'无门槛':'满'+Math.floor(couponData.min_amount)+'可用'}})

距失效

{{timeH}}

{{timeM}}

{{timeS}}

Document

当前位置:材料测试 ›  结构分析 › 

亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统(O-PTIR)

99%

满意度

亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统(O-PTIR)

已 预 约:

120次

服务周期:

平均7个工作日完成
立即下单
咨询价格

收藏

如有各类设备采购需求,请联系专属顾问。
项目介绍

亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统是一种多模态显微分析平台,通过整合红外光谱(IR)、拉曼光谱和荧光光谱技术,在亚微米尺度(<1 μm)实现样品的化学、结构和功能表征。其核心原理是利用近场光学技术(如s-SNOM或O-PTIR)突破红外衍射极限,结合共聚焦拉曼显微(~300 nm)和超分辨荧光成像(如STED/PALM,分辨率<50 nm),同步或交替获取分子振动信息(IR/Raman)与特定分子分布(荧光)。系统通过共享光学路径、时序分离激发和光谱滤波解决信号串扰,最终将多模态数据空间配准,提供官能团分布、分子结构及生物标记物的共定位分析,广泛应用于材料、生物及纳米科技领域。

样品要求

1、常规样品要求:待测无特征尺寸>500nm,厚度>500nm,无毒,无有机挥发物质

2、样品表面平整度要求:单点采谱对平整度无要求,单波数成像一般小于5μm最佳;

其他具体要求可具体沟通

项目案例

半导体失效以及污染测试实例

O-PTIR检测玻璃基板(TGV型)上的粘合剂残留

微电子器件截面污染物

底部填充料污染分析

亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统(O-PTIR)

立即下单
+

你好,很高兴为您服务!

发送