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表征技术:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

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2025-09-15

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二次离子质谱大科普!TOF-SIMS实例分析

二次离子质谱大科普! TOF-SIMS 实例分析 二次离子质谱( Secondary Ion Mass Spectrometry , SIMS )是一种非常灵敏的表面分析技术,通过用一次离子激发样品表面,打出的二次离子因质量不同而飞行到探测器的时间不同,实现不同元素、同位素及分子结构的探测。 一、...

2024-01-19

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表面分析利器——TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪

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2023-12-11

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TOF-SIMS几种不同溅射源的选择

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2023-12-11

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2019-10-25

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