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    AFM原子力显微镜的成像模式以及测试注意事项
    来源:测试GO 时间:2022-08-10 11:33:00 浏览:2705次

    AFM测试成像模式:

    1、接触模式:针尖与样品表面距离小,利用原子间的斥力;可获得高解析度图像;样品变形,针尖受损;不适合于表面柔软的材料;

    2、非接触模式:针尖距离样品5-20nm,利用原子间的吸引力,不损伤样品表面,可测试表面柔软样品;分辨率低,有误判现象;

    3、轻敲模式:探针在Z轴维持固定频率振动,当振动到谷底时与样品接触,对样品破坏小,分辨率几乎同接触模式相同。

     AFM测试实验仪器


    三种模式的比较

    接触模式:

    优点:扫描速度快,是唯一能够获得“原子分辨率”图像的AFM垂直方向上有明显变化的质硬样品,有时更适于用接触模式扫描成像。

    缺点:横向力影响图像质量。在空气中,因为样品表面吸附液层的毛细作用,使针尖与样品之间的粘着力很大。横向力与粘着力的合力导致图像空间分辨率降低,而且针尖刮擦样品会损坏软质样品(如生物样品,聚合体等)。

    非接触模式:

    优点:没有力作用于样品表面。

    缺点:由于针尖与样品分离,横向分辨率低;为了避免接触吸附层而导致针尖胶粘,其扫描速度低于轻敲模式和接触模式AFM。通常仅用于非常怕水的样品,吸附液层必须薄,如果太厚,针尖会陷入液层,引起反馈不稳,刮擦样品。由于上述缺点,非接触模式的使用受到限制。

    轻敲模式:

    优点:很好的消除了横向力的影响。降低了由吸附液层引起的力,图像分辨率高,适于观测软、易碎、或胶粘性样品,不会损伤其表面。

    缺点:比接触模式AFM 的扫描速度慢。

     

    AFM测试样品注意事项:

     

    Q:AFM测试中,对样品的上下表面要求是什么?

    A:要求样品上下表面整洁,无油渍灰尘等污染物

     

    Q:AFM测试中,对粉末样品的质量要求是多少?

    A:不少于5mg

     

    Q:AFM测试中,对固体薄膜样品的厚度要求是多少?

    A:不大于0.5cm


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    12条评论
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    全部 3小时前 四川
    文字是人类用符号记录表达信息以传之久远的方式和工具。现代文字大多是记录语言的工具。人类往往先有口头的语言后产生书面文字,很多小语种,有语言但没有文字。文字的不同体现了国家和民族的书面表达的方式和思维不同。文字使人类进入有历史记录的文明社会。
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