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    霍尔效应测试系统

    霍尔效应测试系统

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    项目介绍

    霍尔效应是电磁效应的一种,当电流垂直于外磁场通过导体时,垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场,从而在导体的两端产生电势差,这一现象就是霍尔效应,这个电势差也被称为霍尔电势差。可提供样品的电阻率、载流子体密度、载流子面密度、载流子迁移率和霍尔系数,判断导电类型。

    功能介绍

    可用于测试Si、GaAs、ZnO、SiGe、SiC、InGaAs、InP、GaN、合金、石墨烯等材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、载流子类型

    项目案例

    样品要求

    1.样品仅限于块体,粉末需压片,2-5ml即可;

    2.块体样品请注明导电层厚度

    3.样品(室温-400K)尺寸需满足:5 mm<长度<10 mm,5 mm<宽度<10 mm,0.3 mm<厚度<2 mm;

    4.样品(室温-800K)尺寸需满足:10~15mm的边长或半径,厚度小于0.5mm

    常见问题

    Q1、霍尔效应的测试方法?

    范德堡法。

    Q2、电阻在多大范围内,测试霍尔效应效果比较好?

    10-5到106Ω。

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