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超景深显微镜

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项目介绍

超景深显微镜用于材料样品的3D形貌成像、粒径测量高度测量宽度测量等,

细微凹凸清晰呈现、直逼 SEM 的观测图像;

可进行2D/3D图像拼接(最大拼接可达到50000像素×50000像素)。

项目案例

样品要求

1. 样品至少2cm3,可测试微米级粉末粒径、表面特征3D成像等;

2. 倍率可从20倍到6000倍自由改变;

3. 拍摄要求请具体填写。

常见问题

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