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台式XAFS吸收谱

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台式XAFS吸收谱

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项目介绍

台式吸收谱仪用于XAFS测试,相比于同步辐射XAFS,无需机时预约,测试周期更短,可测能量范围为4.5-15 keV,能满足3d,5d,稀土元素过渡金属 XAFS 测试。

X射线吸收精细结构 (X-ray absorption fine structure,XAFS),是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具,广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

主要有以下优点:

1. 不依赖于长程有序结构,可用于非晶态材料的研究;

2. 不受其它元素干扰,可对同一材料中不同元素分别研究;

3. 对样品无破坏,在大气环境下测试;

4. 不受样品状态影响,可测量固体(晶体、粉末),液体(溶液、熔融态)和气体等;

5. 能获得配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数,原子间距精确度可达0.01A。

XAFS数据解析可提供以下服务:

1. XANES部分图谱,提供价态、初步结构的定性分析;

2. EXAFS拟合,提供配位原子种类、配位数和键长信息,以及简单的、从物理角度对谱的分析;

3. wavelet图谱,作为EXAFS拟合的进一步证据,同时用小波炫图提高数据分析“逼格”;

样品要求

1. 块体/薄膜样品尺寸 13*13 mm,厚度 1 mm,需表面光滑平整;粉末样品 150~200 mg

2. 需提供用ICP测的样品真实元素含量

3. 不接收有毒、有害、放射性的样品;若样品易氧化吸水,请与技术经理确认;

4. 部分待测元素含量低的样品,图谱可能会有毛刺等问题,可以咨询清楚后下单;

5. 同步辐射XAFS测试拟合需求表下载链接:http://cloud.ceshigo.com/s/lo9cepyq。

项目案例

Normalized XANES spectra at the Co k-edge of Co foil, CoO and sp2c-COF-Co samples.

Normalized FT-EXAFS spectra at the Co k-edge of Co foil, and sp2c-COF-Co.

EXAFS fitting curves of sp2c-COF-Co.doi.org/10.1002/adma.202304511

常见问题
1、XAFS能获得什么信息?

X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure,XAFS)也叫做X射线吸收谱(X-ray absorption spectroscopy,XAS),是一种基于同步辐射光源的,研究材料局域原子、电子结构的一种有力的工具。能获得高精度的配位原子的种类、配位数以及原子间距等结构参数。

通过XANES部分图谱,提供原子价态、初步结构的定性分析、电子结构;EXAFS拟合,提供配位原子种类、配位数和键长信息,以及简单的、从物理角度对谱的分析。

2、XAFS,XANES,EXAFS有什么联系和区别吗?

XAFS(X-ray absorption fine structure)即为X射线吸收精细结构也叫做X射线吸收谱(X-ray absorption spectroscopy,XAS)。而XANES(X-ray Absorption Near-Edge Structure,XANES)叫做X射线吸收近边结构,指的是吸收边前10 eV到边后30-50 eV的区域;扩展边X射线吸收结构(Extended X-ray Absorption Fine Structure,EXAFS)则包含从边后50eV开始到1000eV范围的区域。

3、为什么给出的R空间谱图和table中的键长不一样?

R空间中峰的位置并非真实键长,一般比真实值短0.3~0.4 Å,真实值可以通过下面的壳层拟合获得,记录在table中

4、壳层拟合中有什么需要特别注意的吗?

1、一个峰可能是多种配位原子叠加而成,把每个峰都对应单一配位是不严谨的

2、峰的位置不具有特征性不同样品中同一位置的峰并不一定代表同样的配位

3、并非所有的峰都有意义,特别是一些弱峰,可能是伴随强峰出现的,也可能是由于噪声信号引起的;

4、峰的高度(面积)与配位数正相关,可以用于粗略的比较配位数的变化,但是同时也受无序度等因素的影响

5、EXAFS拟合给出的是整个体系的平均结果,如体系中20%是六配位,80%是四配位,那么理论上给出的结果为(6*20%+4*80%=)4.4配位;

6、EXAFS给出的是二维信息,并不能以此判断立体结构,如配位数是4,并不能确定是平面四边形还是四面体构型。

台式XAFS吸收谱

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