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一文认识TOF-SIMS

一、 TOF-SIMS的原理及特点 飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS),是一种 非常灵敏的表面分析技术 。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子,根据二次离子飞行到探测器的时间不同来测定离子质量。由于TOF-SIMS中离子飞行时间只依赖于它们的质量,故其一次脉冲就可得到一个全谱,离子利...

2019-10-25

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