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FIB聚焦离子束切片分析的实验步骤

FIB 聚焦离子束切片分析的实验步骤 FIB 聚焦离子束 切片分析是一种重要的材料表征技术,广泛应用于材料科学、电子器件研究和纳米技术领域。 FIB 切片分析可以通过利用离子束在材料表面产生的刻蚀作用,将材料切割成非常薄的切片,从而提供了对材料结构和成分的详细观察和分析的能力。 FIB 切片分析的...

2023-05-23

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FIB + SEM/TEM: 能量超乎你的想象!

为充分理解材料的“结构-组成-性能”三要素之间的关系,科学界发展了许多成像和组分分析技术,SEM和TEM就是表征这方面的常用仪器。SEM能够对材料表面的结构形貌和成分组成进行分析,但是无法获取材料内部信息;TEM虽然能够对反映出样品内部及表面信息的薄膜样品进行形貌、成分和结构分析,但是前提是要制备...

2023-02-13

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FIB优惠继续!!返利+礼品双重福利等你领,19款礼品任你选,速戳~

自营实验室的FIB已经上新一段时间了 之前的活动也非常火爆 但还有小伙伴说没有享受到 为了让大家都能享受到优惠 本次给大家带来的 FIB福利直达1月底 礼品、卡券已准备完毕 快来了解详情吧~ * 活动一 下单领高额返利 活动期间下单FIB测试,每笔订单均可享高额返利, 最高可返10% ,多测多得,...

2022-11-14

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聚焦离子束FIB测试的计量技术规范盘点

聚焦离子束 系统采用聚焦的离子束对样品表面进行轰击,并由计算机控制离子束的扫描或加工轨迹、步距、驻留时间和循环次数,以实现对材料的成像、刻蚀、诱导沉积和注入的分析系统。其应用已经从界面检测扩展到纳米图像制备、透射样品制备、三维成像和分析、电路编辑和修复等,在材料科学、生物、半导体集成电路、数据存储...

2022-11-14

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高大上的FIB来啦,高水平论文都在用,带你上分,带你毕业!

你是否还在为如何提高文章档次而发愁? 你是否还在纠结别人的SEM、TEM图片为何如此“与众不同”? 了解完了各种原位测试,熟悉了各种理论计算,难道就满足了吗? 不!学无止境!要想文章发的好,FIB(聚焦离子束)测试少不了! 本期,笔者就带领大家走进频现高水平论文的FIB测试,揭一揭这个高端测试的庐...

2022-11-11

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FIB聚焦离子束常见的应用场景分析

系统及原理 双束聚焦离子束系统可简单地理解为是单束聚焦离子束和普通SEM之间的耦合。单束聚焦离子束系统包括离子源,离子光学柱,束描画系统,信号采集系统,样品台五大部分。离子束镜筒顶部为离子源,离子源上施加强大电场提取带正电荷离子,经静电透镜和偏转装置聚焦并偏转后实现样品可控扫描。样品加工采用加速离...

2022-10-19

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每天学一点:FIB聚焦离子束

FIB基础知识 FIB即聚焦离子束,具有两大功能,一是 将液态金属离子源产生的离子束经加速、聚焦后用于轰击样品表面,使之产生二次电子信号以获得样品表面的电子像(类似于SEM) ;二是 利用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳级别表面形貌加工 。若在物理溅射的方式上搭配化学气体反应系统,则可...

2022-09-23

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FIB测试在材料测试中存在的重要缺陷以及改善方法

F IB(聚焦离子束,Focused Ion beam)是将离子源(常用Ga,也有 He和Ne离子源)产生的离子束经过离子枪加速聚焦后作用于样品表面。 通过产生二次电子信号取得电子像,这与扫描电子显微镜(SEM)相似;另外通过强电流离子束轰击样品表面,利用物理碰撞对微、纳米级表面形貌加工。也可以物...

2022-09-15

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