快捷下单入口 关于 合作 招聘 新人手册 会员中心

    热线:400-152-6858

    测试狗科研服务

    预存 免费试测 登录
    重置 发 布
    相关项目 › FIB
    三维原子探针(APT)

    三维原子探针(APT)

    已预约3312

    平均周期10天  |  总体满意度99%

    立即预约

    FIB云现场/现场

    FIB云现场/现场

    已预约6396

    平均周期7天  |  总体满意度99.4%

    立即预约

    聚焦离子束(FIB)

    聚焦离子束(FIB)

    已预约11383

    平均周期7天  |  总体满意度99.2%

    立即预约

    失效分析

    失效分析

    已预约1518

    平均周期8天  |  总体满意度99%

    立即预约

    c

    未找到需求?
    试试以下方式:

    发布需求 在线沟通
    课程/视频 › FIB
    李老师

    FIB-TEM样品制备技术

    李老师

    免费

    测试GO

    FIB-TEM案例展示

    测试GO

    免费

    测试GO

    FIB-SEM案例展示

    测试GO

    免费

    测试GO

    FIB-SEM微纳加工Logo实操

    测试GO

    免费

    测试GO

    聚焦离子束(FIB)

    测试GO

    免费

    王老师-FIB

    FIB-TEM|从样品制备到上机测试

    王老师-FIB

    免费

    资讯/文章 › FIB
    更多

    FIB无敌折扣,尽享省心测试之旅,快来下单吧!

    2024-11-14

    1101次浏览

    收藏

    聚焦离子束FIB的优势与挑战:技术优缺点探讨

    聚焦离子束 FIB 的优势与挑战:技术优缺点探讨 聚焦离子束( Focused Ion Beam, FIB )技术是一种高精度微加工和微分析技术,广泛应用于半导体制造、材料科学、生物学等领域。 一、优势 1. 高精度加工: FIB 技术 能够实现纳米级的加工精度,远高于传统的光刻技术 ;它可以用于...

    2024-09-05

    1806次浏览

    收藏

    FIB聚焦离子束技术在检测样品时样品的制备流程解析

    FIB 聚焦离子束技术在检测样品时样品的制备流程解析 聚焦离子束 FIB 技术是一种基于离子光学原理的微纳米加工技术,其具有高精度、高效率、实时性好等优点。 FIB 技术在我国科研、工业等领域得到了广泛的应用,尤其在样品制备方面, FIB 技术具有独特的优势。本文将详细介绍 FIB 技术在样品制备...

    2023-12-18

    1511次浏览

    收藏

    聚焦离子束(FIB)助力新型材料研究与开发

    聚焦离子束( FIB )助力新型材料研究与开发 聚焦离子束( FIB )技术是一种利用静电透镜将离子束聚焦成极小尺寸的微切割技术 ,其原理是将液态金属离子源产生的离子束经过聚焦,形成具有高能量、高束流密度的离子束,通过控制离子束的扫描路径,可以在材料表面进行纳米级的切割、刻蚀和修饰等操作; FIB...

    2023-12-05

    1648次浏览

    收藏

    FIB + SEM/TEM: 能量超乎你的想象!

    为充分理解材料的“结构-组成-性能”三要素之间的关系,科学界发展了许多成像和组分分析技术,SEM和TEM就是表征这方面的常用仪器。SEM能够对材料表面的结构形貌和成分组成进行分析,但是无法获取材料内部信息;TEM虽然能够对反映出样品内部及表面信息的薄膜样品进行形貌、成分和结构分析,但是前提是要制备...

    2023-11-23

    11266次浏览

    收藏

    关于聚焦离子束(FIB)的基本原理、主要用途及应用优势

    关于聚焦离子束( FIB )的基本原理、主要用途及应用优势 聚焦离子束 ( FIB , Focused Ion Beam )是一种先进的纳米级加工和分析技术,它结合了离子束技术和 扫描电子显微镜( SEM ) 技术,具有广泛的应用优势。 一、基本原理 聚焦离子束显微镜系统由液态金属离子源产生离子束...

    2023-11-21

    5852次浏览

    收藏

    FIB-SEM电镜技术在材料分析中的应用及优势

    FIB-SEM 电镜技术在材料分析中的应用及优势 扫描电子显微镜 ( SEM )是一种广泛应用于材料表面形貌、形变及组成分析的设备。然而,在处理一些复杂、不规则的样品以及需要进行精细切割、观察内部结构的样品时,传统的 SEM 存在局限性。为了克服这些限制,聚焦离子束 - 扫描电子显微镜( FIB-...

    2023-10-08

    2083次浏览

    收藏

    FIB聚焦离子束切片分析的实验步骤

    FIB 聚焦离子束切片分析的实验步骤 FIB 聚焦离子束 切片分析是一种重要的材料表征技术,广泛应用于材料科学、电子器件研究和纳米技术领域。 FIB 切片分析可以通过利用离子束在材料表面产生的刻蚀作用,将材料切割成非常薄的切片,从而提供了对材料结构和成分的详细观察和分析的能力。 FIB 切片分析的...

    2023-05-23

    2924次浏览

    收藏

    更多
    Document
    关于我们 新手帮助 测试干货 商务合作 基金查询 相关资质 模拟计算 现场测试 服务项目 科研绘图 同步辐射 电池行业

    联系方式/contact

    400-152-6858

    工作时间/work time

    09:00-18:00

    测试狗公众号

    关注我们 了解更多

    测试狗小程序

    随时预约 掌握进度

    蜀公网安备51010602000648号

    蜀ICP备17005822号-1

    成都世纪美扬科技有限公司

    Copyright@测试狗·科研服务